X射线线阵扫描成像系统是20世纪80年代开发的新的无损检测成像技术。它以半导体技术、计算机数字成像技术为基础，近年来得到了很大发展。使之具有更高的扫描速度，更宽的动态范围和更小的象素尺寸，并且在无损检测的应用领域得到广泛应用。该系统可以承受450kvX射线能量，对各种复杂工件可一次成像，不需光栅遮挡或做厚度补偿等。